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中國科大理化科學(xué)實(shí)驗中心國產(chǎn)超高分辨場(chǎng)發(fā)射電鏡試運

發(fā)布時(shí)間:2024-5-16     來(lái)源:中國科大理化科學(xué)實(shí)驗中心    編輯:衡盛楠    審核:張經(jīng)緯 王靜

中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)實(shí)驗中心內的兩款國儀量子掃描電鏡

近日,中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)實(shí)驗中心新安裝了國儀量子自主研制的首臺超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X。目前,該設備已完成前期調試,即將投入試運行。

PART.1 技術(shù)指標    

超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X

SEM5000X是一款超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kV1.0 nm@1 kV。高分辨物鏡設計、高壓隧道技術(shù)(Super Tunnel)以及鏡筒工藝升級,實(shí)現了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設計的樣品倉,擴展接口增加至16個(gè),快速換樣倉最大支持8寸晶圓(最大直徑208 mm),極大擴展應用范圍。高級掃描模式和自動(dòng)功能增強,帶來(lái)了更強的性能和更好的體驗。

儀器特點(diǎn)

·超高分辨率成像,達到了突破性的0.6 nm@15 kV1.0 nm@1 kV

·樣品臺減速和高壓隧道技術(shù)組合的雙減速技術(shù),挑戰極限樣品拍攝場(chǎng)景

·高精度機械優(yōu)中心樣品臺、超穩定性的機架減震設計,可搭配整體罩殼設計,極大減弱環(huán)境對極限分辨率的影響

·最大支持8寸晶圓(最大直徑208 mm)的快速換樣倉,滿(mǎn)足半導體和科研應用需求

PART.2 應用案例


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